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  • 叶面积指数测定仪

叶面积指数测定仪

  • 叶面积指数测定仪主要用于作物叶片及冠层光谱的测量,可现场诊断作物的营养状况,可测量叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数、叶面积密度的方位分布、冠层内外的光合有效辐射(PAR)等。
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详情介绍

  一、功能特点

  1、主要用于作物叶片及冠层光谱的测量,可现场诊断作物的营养状况,可测量叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数、叶面积密度的方位分布、冠层内外的光合有效辐射(PAR)等。广泛应用于作物、植物群体冠层受光状况的测量分析以及农林业科研工作。

  2、作物冠层分析仪可无损测量叶面积指数、叶片平均倾角以及冠层结构。

  3、探头体积小巧,装在测杠上可任意角度测量植物冠层结构。

  4、摄像头可自动保持水平。

  5、USB接口,测量时连接电脑实时查看图像,即时选取所需图像并保存。

  6、外接大容量锂电池,适用于野外工作和长时间测量。

  7、测量冠层不同高度,可得到群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图。

  8、配有专用分析软件,有选择所需图像区域的功能(天顶角可分10区,方位角可分10区),可屏蔽不合理的冠层部分,仅对有效图像区域进行分析,使测量数据更加精确。

  二、技术参数

  镜头角度:150°(用户有特殊需要,可以自选180°)

  分辨率:768×494pix

  测量范围:天顶角由0°~75°

  PAR感应范围:感应光谱400nm~ 700nm

  测量范围0~2000μmol/㎡•S

  分析软件:植物冠层分析系统

  电 源:7.4V锂电池组

  传输接口:USB

  工作温度:0~55℃


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